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                當前位置:網站首頁 > 產品中心 > 導電材料電阻率測試】儀 > 高溫四探針電阻率測試◇儀

                高¤溫四探針電阻率測試儀


                詳細介紹

                一.BEST-351高溫四探針電阻率測試系統概述:
                采用四探針雙電組合測量方法測試♀方阻和電阻率系統與高≡溫箱結合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數據的處理和測量控制,解決半導體材〇料的電導率對溫度變化測量要求,軟件實時繪制出溫度與電阻,電阻率,電導率數據的變化曲線圖↓譜,及過程數據值的報表分析.
                二.適用行業::
                用於:企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、矽、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定矽外延♀層、擴散層和離子註入★層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率∮和電導率數據.
                雙電測≡四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照〓單晶矽物理測試方法並參考美國 A.S.T.M 標準。
                三.型號及參數:
                規格型號    FT-351A    FT-351B    FT-351C
                方塊電阻範◥圍     10-5~2×105Ω    10-6~2×105Ω    10-4~1×107Ω
                電阻率範圍    10-6~2×106Ω-cm    10-7~2×106Ω-cm    10-5~2×108Ω-cm
                測試電流範圍    0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA,10mA,100 mA    1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA    10mA?---200pA
                電流精度    ±0.1%讀數    ±0.1讀數    ±2%
                電阻精度    ≤0.3%    ≤0.3%    ≤10%
                PC軟件界面    顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
                測試方式    雙電測量
                四探針儀工作電源    AC 220V±10%.50Hz  <30W 

                誤差    ≤3%(標準樣片結果    ≤15%
                溫度(選購)
                    常溫 --400℃;600℃;800℃;1000℃;1200℃;1400℃;1600℃
                氣氛保護(氣體你注意四周客戶自備)    常@ 用氣體如下:氦(He)、氖(Ne)、氬(Ar)、氪(Kr)、氙(Xe)、氡(Rn),均為無色、無臭、氣態的單原子分子
                溫度精度    沖溫值:≤1-3℃;控溫精度:±1°C
                升溫速度:    常溫開始400℃--800℃需要15分鐘;800℃-1200℃需要30分鐘;1400℃-1600℃需要250分鐘—300分鐘
                高溫材料    采用復合陶瓷纖維材料,具有真空成型,高溫不掉粉的↘特征
                PC軟件
                    測試PC軟件一套,USB通訊接口,軟件界面同步没想到顯示、分析、保存和打印數據! 
                電極材料     鎢電極何林全力一刀狠狠朝那恶魔之主劈了下去或鉬電極 
                探針間距 
                    直線型探針,探針中心間距:4mm;樣品要求大於13mm直徑
                標配外(選購):
                    電 金鲁兄腦和打印機1套;2.標準電阻1-5個

                高溫電源:
                    供電:400-1200℃ 電源220V,功率4KW;380V;1400℃-1600℃電源380V;功率9KW:

                配套方案:解決各材料狀態 --固態、液態、氣態、顆粒狀 電阻、電阻率、電導率測量

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